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SM642背照式CCD光谱仪技术参数
| 品牌 | Ekspla | 型号 | SM642 |
SM642背照式CCD光谱仪详细介绍
SM642背照式CCD光谱仪(SM642 Back-thinned CCD spectrometer)
型号：SM642
商品简介：SM642是一款科研级，高性价比，高信噪比，高量子效率，低杂散光的光谱仪。是测量弱光源的。SM642采用Hamamatsu S10420-1106 背照式CCD，2048x64像素，具有较高的分辨率和灵敏度。SM642在紫外波段表现尤为出色，而且动态范围高。它可以提供850nm的测量范围。有效光谱测量范围：200-1050nm。
详细技术参数：
型号 | SM642 Back-thinned CCD spectrometer |
探测器 | Hamamatsu S10420-1106背照式CCD 像素点: 2048 X 64 点像尺寸: 14μm x 14μm 像素井深: 200K e- 动态范围：33300 量子效率: >90% @650nm, 65% @250nm |
焦比 | 3.3 |
暗噪声 | ＜7 RMS计数点（积分时间为35ms） |
信噪比 | ＞450:1 |
光纤接口 | SMA905或FC光纤耦合器 |
有效光谱测量范围 | 200-1050nm |
分选滤波器 | 长通滤波器,线性可变滤波器，根据所需光谱范围选择 |
光谱分辨率 | 0.15-10nm（主要根据光栅和狭缝的选择） |
杂散光 | <0.01%@ 632nm(<0.05%平均) |
电脑接口 | USB1.1/2.0 16位500KHZ(最高可配置8通道) |
最小积分时间 | 7ms |
触发模式 | 自动运行 软件触发模式 外部出发模式（9针连接器）：边沿触发输入/数字输出监控 |
狭缝 | 5, 10, 25, 50, 100, 200, 400μm |
产品尺寸(CM) | 20 H X 13 W X 7.3 D |
产品重量 | 2.25kg |
应用软件 | SM32Pro |
