电学分析仪器产品列表-嘉仪通科技

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便携式泽贝克系数测试仪(PTM)

可快速测试Seebeck系数，对样品无特殊要求，测量方法稳定可靠

电学分析仪器热电系列
更新时间：2024-06-22 11:08:13 游览次数：4
薄膜热电参数测试系统（MRS）

薄膜热电参数测试系统是专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量，测温范围达到81K~700K，采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。

电学分析仪器热电系列
更新时间：2024-06-22 11:08:13 游览次数：5
热电参数测试系统（Namicro）

热电参数测试系统采用动态法(具有ZL技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、Z

电学分析仪器热电系列
更新时间：2024-06-22 11:08:13 游览次数：5
霍尔效应测试系统（HET）

霍尔效应测试系统依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs

电学分析仪器霍尔效应洗
更新时间：2024-06-22 11:08:12 游览次数：5
薄膜变温电阻测试仪（TRT）

薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率，可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量。

电学分析仪器变温电阻系列
更新时间：2024-06-22 11:08:12 游览次数：5

便携式泽贝克系数测试仪(PTM)

品牌：武汉嘉仪通

型号：PTM

价格：面议
薄膜热电参数测试系统（MRS）

品牌：武汉嘉仪通

型号：MRS

价格：面议
热电参数测试系统（Namicro）

品牌：武汉嘉仪通

型号：Namicro

价格：面议
霍尔效应测试系统（HET）

品牌：武汉嘉仪通

型号：HET

价格：面议
薄膜变温电阻测试仪（TRT）

品牌：武汉嘉仪通

型号：TRT

价格：面议

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